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    集成门电路功能测试实验报告

    时间：2020-10-23 12:09:49 来源：蒲公英阅读网 本文已影响人 蒲公英阅读网手机站

    相关热词搜索：集成 实验 功能

    　集成门电路功能测试实验报告 一、

    　实验预习 1、 逻辑值与电压值得关系。

    　２、 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。

    　3、 硬件电路基础实验箱得结构、基本功能与使用方法。

    　二、

    　实验目得 测试集成门电路得功能 三、

    　实验器件 集成电路板、万用表 四、

    　实验原理 TTL 与非门７4LS０0 得逻辑符号及逻辑电路:

    　双列直插式集成与非门电路CＴ74LS00：

    　数字电路得测试：

    　常对组合数字电路进行静态与动态测试，静态测试就是在输入端加固定得电平信

    　号，测试输出壮态,验证输入输出得逻辑关系.动态测试就是在输入端加周期性信号,测试输入输出波形,测量电路得频率响应。常对时序电路进行单拍与连续工作测试,验证其状态得转换就是正确。本实验验证集成门电路输入输出得逻辑关系，实验在由硬件电路基础实验箱与相关得测试仪器组成得物理平台上进行。

    　硬件电路基础实验箱广泛地应用于以集成电路为主要器件得数字电路实验中,它得主要组成部分有: （１) 直流电源：提供固定直流电源（+5Ｖ,—5Ｖ)与可调电源(+3～１５Ｖ，-3～1５V). (2) 信号源：单脉冲源(正负两种脉冲）；连续脉冲。

    　（３）

    　逻辑电平输出电路:通过改变逻辑电平开关状态输出两个电平信号：高电平“1”与低电平“0”。

    　（4）

    　逻辑电平显示电路：电平显示电路由发光二极管及其驱动电路组成，用来指示测试点得逻辑电平. （5) 数码显示电路：动态数码显示电路与静态数码显示电路，静态数码显示电路由七段LEＤ数码管及其译码器组成。

    　(6）

    　元件库：元件库装有电位器、电阻、电容、二极管、按键开关等器件.

    　(7) 插座区与管座区：可插入集成电路，分立元件.

    　集成门电路功能验证方法：

    　选定器件型号，查阅该器件手册或该器件外部引脚排列图,根据器件得封装，连接好实验电路，以测试 74ＬＳ00 与非门得功能为例:

    　正确连接好器件工作电源：７4LS00 得 1 4 脚与７脚分别接到实验平台得 5 V 直流

    　电源得“＋5 V"与“GNＤ”端处,TＴＬ数字集成电路得工作电压为 5 V（实验允许±5％得误差）。

    　连接被测门电路得输入信号:74ＬS０0 有四个二输入与非门，可选择其中一个二输入与非门进行实验,将输入端 A，B 分别连接到实验平台得“十六位逻辑电平输出” 电路得其中两个输出端（如Ｋ１、Ｋ 2 对应得输出端)。

    　连接被测门电路得出端：将与非门得输出端 Y 连接到“十六位逻辑电平显示”电路得其中一个输入端。

    　确定连线无误后，可以上电实验，并记录实验数据，分析结果。

    　通过开关改变被测与非门输入端Ａ,B 得逻辑值,对应输入端得 LED 指示灯亮时为 1,不亮时为 0。

    　观测输出端得逻辑值，对应输出端得指示灯ＬED 亮红色时为 1，亮绿色时为０。不亮表示输出端不就是标准得 TTＬ电平. K1、K 2 共有４种开关位置得组合,对应被测电路得四种输入逻辑状态 00,01,10，１1,可以改变 K1、K 2 开关得位置,观察电平显示 LED 得亮灭情况，以真值表得形式记录被测门电路得输入与输出逻辑状态。

    　观测逻辑值时，用万用表测量出对应得电压值,验正 TＴＬ电路逻辑值与电压值得关系. 比较实测值与理论值，比较结果一致,说明被测门得功能就是正确得,门电路完好。如果实测值与理论值不一致，应检查集成电路得工作电压就是否正常,实验连线就是否正确,判断门电路就是否损坏. 五、

    　实验内容 1、

    　基本门电路逻辑电路测试：

    　测试 74LS０8（与门）、74LＳ32（或门)、74LS04（非门)、7４LS00(与非门）

    　、７４LS86（异或门）得功能。将被测芯片插入实验区得空插座,连接好测试线路，拨动开关，改变输入信号，观测输入输出端得逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应得电压值，验正 TTＬ 电路得逻辑功能， 记录实验数据。

    　输入 输出Ｙ 74LS08 ７4LS32 74LS04 74ＬS0０ 74LS86 A B Y U/V Ｙ Ｕ/V Ｙ Ｕ/Ｖ Y U/V Y Ｕ/V

    　2、

    　逻辑门得转换

    　利用 7４Ｓ０0 与非门组成非门，2 输入与门，2 输入或门电路,画出实验电路图，并测试其逻辑功能,验证结果。

    　非门: 电路图：

    　测试结果：

    　与门: 电路图：

    　测试结果：

    　或门: 电路图：

    　0 0 0 0、２１ --－ --— 1 3、５5 1 3、55 0 0、7７ 0 1 0 ０、２0 —-- ——- 0 ０、1０ 1 3、54 1 3、５3 1 0 0 0、21 --— -－- -—— -－- 1 3、5４ １ 3、２2 1 1 1 3、４2 ——－ －—－ --— —-－ ０ 0、15 1 ３、09 A Y ０ 1 1 0 Ａ Ｂ Ｙ 0 ０ ０ 0 1 ０ 1 0 0 1 １ 1

    　 测试结果: ３、 门电路得基本应用 测试用“ 异或门”与“与非门”组成得半加器逻辑 功能。

    　根据半加器得逻辑表达式可知，半加器得输出得与数 Ｓ 就是输入 A、B(二进制数）得“异或”，而进位数 Ｃ 就是 A、B 得相“与”,故半加器可用一个集成“异或门"与两个“与非门”组成，如图 1、3、3 所示。

    　(1）在实验箱上用“异 (74ＬS８6）与“与非”门连 1、３、３所示逻辑电路。输入端Ａ、 B 接“逻辑电平”开关，输出端 S、C 接“电平显示”发光二极管。

    　通过电平开关改变输入 A、B 得逻辑状态置位，观测输出端得逻辑状态，列表记录。

    　(2）通过电平开关改变输入 A、B 得逻辑状态置位，观测输出端得逻辑状态，列表记录. 六、

    　实验心得 此次实验原理不就是很复杂,但就是线路比较难连,实验所用到得关键器件也不太好找.理论知识挺容易得,但实际实行起来得确蛮纠结得，做了好多次总就是有问题，后来发现电线有一根就是坏掉得,做电路实验，还就是需要多些经验呐。

    　A B Ｙ 0 0 0 0 1 1 1 0 1 １ 1 1 A Ｂ Ｓ C ０ 0 ０ ０ ０ １ 1 0 1 0 1 ０ 1 1 0 1

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