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    时间:2020-08-17 12:24:13 来源:蒲公英阅读网 本文已影响 蒲公英阅读网手机站

    相关热词搜索:组合 电路设计 逻辑

     实验三 组合逻辑电路设计 (含门电路功能测试)

     一、实验目的 1.掌握常用门电路的逻辑功能 2.掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法 3.掌握组合逻辑电路的功能测试方法

     二、实验设备与器材 Multisim 、74LS00 四输入 2 与非门、示波器、导线

     三、实验原理 TTL 集成逻辑电路种类繁多,使用时应对选用的器件做简单逻辑功能检查,保证实验的顺利进行。

      测试门电路逻辑功能有静态测试和动态测试两种方法。静态测试时,门电路输入端加固定的高(H)、低电平,用示波器、万用表、或发光二极管(LED)测出门电路的输出响应。动

     态测试时,门电路的输入端加脉冲信号,用示波器观测输入波形与输出波形的同步关系。

     下面以 74LS00 为例,简述集成逻辑门功能测试的方法。74LS00 为四输入 2 与非门,电路图如 3-1 所示。74LS00 是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中,共有 14 条外引线。使用时必须保证在第 14 脚上加+5V 电压,第 7 脚与底线接好。

     整个测试过程包括静态、动态和主要参数测试三部分。

     表 3-1

     74LS00 与非门真值表 A B C 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0

     1.门电路的静态逻辑功能测试 静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表,确认门电路的逻辑功能正确与否。实验时,可将 74LS00 中的一个与非门的输入端 A、B 分别作为输入逻辑变量,加高、低电平,观测输出电平是否符合 74LS00 的真值表(表 3-1)描述功能。

     测试电路如图 3-2 所示。试验中 A、B 输入高、低电平,由数字电路实验箱中逻辑电平产生电路产生,输入 F 可直接插至逻辑电平只是电路的某一路进行显示。

      仿真示意

     2.门电路的动态逻辑功能测试

      动态测试用于数字系统运行中逻辑功能的检查,测试时,电路输入串行数字信号,用示波器比较输入与输出信号波形,以此来确定电路的功能。实验时,与非门输入端 A 加一频率为

     1kHz 的脉冲信号 Vi,如图 3-3 所示,另一端加上开关信号,观测 F 输出波形是否符合功能要求。测试图如 3-4 所示。

     动态测试-1 态

     动态测试-0 态

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